Новости
Все новости
2 августа 2023
Заключение НИКИМТ-АТОМСТРОЙ на наборы КЛЕВЕР
22 апреля 2022
Сертификат утверждения типа на дефектоскопы УСД-20
16 сентября 2021
Новая серия сканеров для УЗК
Акустический импедансный дефектоскоп ИД-92НМ
- Описание
- Технические характеристики
- Особенности
-
Акустический дефектоскоп ИД-92НМ предназначен для акустического контроля изделий из композитных и других материалов с большим затуханием с помощью импедансного метода и метода свободных колебаний, на предмет определения расслоений, непроклеев, внутренних дефектов в изделиях из слоистых пластиков, композитных и сотовых материалов. Внесен в Госреестр СИ.
-
- Максимальная глубина обнаружения дефекта
- в конструкциях из алюминиевых сплавов до 3мм (РСП), 1,5мм (СП)
в изделиях из композиционных материалов до 13мм (РСП), 4 мм (СП) - Минимальный размер обнаруживаемого дефекта
- 5 мм (в изделиях из композиционных материалов совмещенным преобразователем)
- Типы используемых преобразователей
- импедансный раздельно-совмещенный RSP-60;
импедансный совмещенный SP-60 - Реализуемые методы контроля
- импедансный
- Отображение сигнала
- стрелочный индикатор амплитуды
- Автоматическая Сигнализация Дефектов (АСД)
- световая и звуковая
- Время работы от аккумуляторов
- не менее 8 часов
- Питание дефектоскопа
- Аккумулятор или внешний блок питания
- Диапазон рабочих температур
- от -10 C до +50 C
- Размер (В x Ш x Д)
- 62мм x 152 мм x 200 мм
- Масса
- 1 кг
-
- Дружественный интерфейс "включи и работай"
- Принцип действия -импульсный импедансный
- "Сухой" контакт преобразователя и контролируемого объекта
- Комплектуется двумя типами преобразователей: совмещенным (SP) и раздельно-совмещенным (RSP)
- Комплектация преобразователей износостойкими корундовыми (искусственный сапфир) наконечниками, что в разы увеличивает срок службы, а также исключает вероятность повреждения (царапания) контролируемой поверхности
- Металлический ударопрочный корпус с прорезиненной ручкой, позволяющей фиксировать прибор в различных положениях
- Не требует долгой настройки, настраивается на бездефектном участке обследуемого объекта